瞬态多光谱辐射一维测温系统

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更新时间：2026-03-26
产品介绍：瞬态多光谱辐射一维测温系统是以普朗克热辐射理论为基础，将待测目标的辐射度与标准黑体温度进行比较，从而测得待测目标温度的一种光学仪器。在辐射波长范围内，取出6-8个窄带光谱对应的辐出度，从而把不同温度下光谱辐出度随波长的变化曲线反演计算出来，然后得到被测物体温度
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产品简介：

瞬态多光谱辐射一维测温系统是以普朗克热辐射理论为基础，将待测目标的辐射度与标准黑体温度进行比较，从而测得待测目标温度的一种光学仪器。在辐射波长范围内，取出6-8个窄带光谱对应的辐出度，从而把不同温度下光谱辐出度随波长的变化曲线反演计算出来，然后得到被测物体温度。

技术参数：

序号	参数名称	技术指标
1	系统构成	由光纤探头、传输铠甲光纤、光纤分束器、测温主机、数据处理软件等组成
2	温度范围	1000~8000℃
3	温度测量精度	2%
4	测量距离	0.1~100m
5	工作波长	0.4~1.8μm
6	波长数	6个
7	采样频率	200MHz
8	最长测量时间	5s
9	数据采集系统	不低于8通道，可独立工作
10	输出	曲线数字显示和存储温度数据
11	响应时间	≤10ns
12	环境	工作温度-10~50℃，湿度：95%无冷凝
13	测量点数	1-8点可选

应用领域：

瞬态多光谱辐射一维测温系统主要用于动载荷下瞬态高温测量（1000℃～8000℃），如爆轰冲击波温度、燃烧温度、材料的冲击温度、等离子体温度、卸载温度、发动机温度、尾喷射流温度等的测量；也可用于其他瞬态超高温度的测量；也可测量高压下材料的其它参数，如测量冲击波或稀疏波到达物质界面的时间，以确定其冲击波速度及高压卸载声速；还可用于测量爆炸温度场的温度。

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