欢迎来到四川物科光学精密机械有限公司网站!
拨号18780488515

你的位置:首页 > 技术文章 > 粒子图像测速技术的优点表现在哪些方面?

技术文章

粒子图像测速技术的优点表现在哪些方面?

技术文章
粒子图像测速(PIV),是一种用多次摄像以记录流场中粒子的位置,并分析摄得的图像,从而测出流动速度的方法。其基本原理是在流场中布撒示踪粒子,并用脉冲激光片光源入射到所测流场区域中,通过连续两次或多次曝光,粒子的图像被记录在底片上或CCD相机上。采用光学杨氏条纹法、自相关法或互相关法,逐点处理PIV底片或CC 记录的图像,获得流场速度分布。因采用的记录设备不同,又分别称FPIV(用胶片作记录)和数字式图像测速DPW(用CCD相机作记录)。
 
粒子图像测速技术的突出优点表现在:
 
(1)是一种非接触式流动测量方法,突破了空间单点测量(如LDV)的局限性,实现了全流场瞬态测量;
 
(2)实现了无扰测量,而用毕托管或HWFV等仪器测量时对流场都有一定的干扰;
 
(3)容易求得流场的其他物理量,由于得到的是全场的速度信息,可方便的运用流体运动方程求解诸如压力场、涡量场等物理信息。因此,该技术在流体测量中占有重要的地位。

联系我们

地址:四川省绵阳市游仙区绵山路64号中物院海天大楼 传真:86-0816-2490318 Email:380768767@qq.com
24小时在线客服,为您服务!

版权所有 © 2021 四川物科光学精密机械有限公司 备案号:蜀ICP备15034976号-3 技术支持:化工仪器网 管理登陆 GoogleSitemap

在线咨询
QQ客服
QQ:380768767
电话咨询
86-0816-2490318
关注微信